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PDM-1100相位差光譜分析儀

    PDM-1100相位差光譜分析儀是主要運用光譜技術對波片、激光雷達等光學元器件的相位差進行測量分析的儀器，為光學元件質量把控提供數據支撐。該設備可在0~70度之間自定義測量角度，滿足不同檢測需求。放置好樣品即可開始測試，無需建立材料庫、無需建模、無需對焦，測試速度快，操作便捷。

波片相位差測量

激光雷達視窗片相位差測量

 儀器特點

1. 相位差測量范圍可選，0-180°或0-360；
2. 0°固定入射或可變角度(0到70度)測量；
3. 可測量波片、車載雷達窗口片等樣品的相位差波長分布情況；
4. 支持大尺寸樣品測量，最大至200mm；
5. 無需對焦,無需材料庫，無需建模，測量速度快。

 產品參數